خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing

مدلسازی سلسله مراتبی برای تست مدار VLSI

Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing

نویسنده: Debashis Bhattacharya, John P. Hayes (auth.)

ناشر: Springer US

سال انتشار: 1990

تعداد صفحات: 167

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 5 مگابایت