خرید و دانلود نسخه کامل کتاب High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures

پراکندگی اشعه ایکس با وضوح بالا: از لایه های نازک تا نانوساختارهای جانبی

High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures

نویسنده: Ullrich Pietsch, Václav Holý, Tilo Baumbach (auth.)

ناشر: Springer-Verlag New York

سال انتشار: 2004

تعداد صفحات: 409

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 16 مگابایت