خرید و دانلود نسخه کامل کتاب High resolution X-ray diffractometry and topography

پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا

High resolution X-ray diffractometry and topography

نویسنده: D.K. Bowen, Brian K. Tanner

ناشر: Taylor & Francis

سال انتشار: 1998

تعداد صفحات: 278

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 8 مگابایت