تخریب حامل داغ در دستگاه های نیمه هادی
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
نویسنده: Tibor Grasser (eds.)
ناشر: Springer International Publishing
سال انتشار: 2015
تعداد صفحات: 518
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 21 مگابایت