خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits

قابلیت اطمینان داغ از مدارهای MOS VLSI

Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits

نویسنده: Yusuf Leblebici, Sung-Mo (Steve) Kang (auth.)

ناشر: Springer US

سال انتشار: 1993

تعداد صفحات: 222

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 7 مگابایت