خرید و دانلود نسخه کامل کتاب IDDQ Testing of VLSI Circuits

تست IDDQ مدارهای VLSI

IDDQ Testing of VLSI Circuits

نویسنده: Jerry M. Soden, Charles F. Hawkins, Ravi K. Gulati (auth.), Ravi K. Gulati, Charles F. Hawkins (eds.)

ناشر: Springer US

سال انتشار: 1993

تعداد صفحات: 120

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 11 مگابایت