خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons

بیضی سنجی مادون قرمز در ساختارهای لایه نیمه هادی: فونون ، پلاسمون و پولاریتون

Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons

نویسنده: Mathias Schubert (auth.)

ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg

سال انتشار: 2005

تعداد صفحات: 181

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 10 مگابایت