خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models

حساسیت به نقص مدار مجتمع: نظریه و مدل‌های محاسباتی

Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models

نویسنده: José Pineda de Gyvez (auth.)

ناشر: Springer US

سال انتشار: 1993

تعداد صفحات: 181

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 5 مگابایت