مهندسی تست مدار یکپارچه: تکنیک های مدرن
Integrated Circuit Test Engineering: Modern Techniques
نویسنده: Ian A. Grout
ناشر: Springer
سال انتشار: 2005
تعداد صفحات: 380
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 3 مگابایت
توضیحی برای این کتاب ثبت نشده است.