خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging

قابلیت اطمینان اتصال در بسته بندی دستگاه حافظه پیشرفته

Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging

نویسنده: Chong Leong Gan, Chen-Yu Huang

ناشر: Springer

سال انتشار: 2023

تعداد صفحات: 223

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 9 مگابایت