خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach

سازگاری سطحی در میکروالکترونیک: دور شدن از رویکرد آزمایش و خطا

Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach

نویسنده: Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Kröckel, Markus Turunen, Toni T. Mattila, Jorma Kivilahti (auth.)

ناشر: Springer-Verlag London

سال انتشار: 2012

تعداد صفحات: 228

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 6 مگابایت