خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Interferometry - Research and Applications in Science and Technology

تداخل سنجی - تحقیقات و کاربردها در علم و فناوری

Interferometry - Research and Applications in Science and Technology

نویسنده: Ivan Padron

ناشر: InTech

سال انتشار: 2016

تعداد صفحات: 474

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 38 مگابایت