تداخل سنجی برای اندازه گیری دقیق
Interferometry for precision measurement
نویسنده: Langenbeck, Peter
ناشر: SPIE
سال انتشار: 2014
تعداد صفحات: 253
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 24 مگابایت
توضیحی برای این کتاب ثبت نشده است.