مقدمه ای بر طراحی و بهینه سازی پیشرفته سیستم در تراشه (مرزها در تست الکترونیک)
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing)
نویسنده: Erik Larsson
ناشر: Springer US, 1 edition, November 7, 2005
سال انتشار: 2005
تعداد صفحات: 397
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 5 مگابایت