خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Introduction to Quantum Metrology: The Revised SI System and Quantum Standards

مقدمه ای بر مترولوژی کوانتومی: سیستم SI تجدید نظر شده و استانداردهای کوانتومی

Introduction to Quantum Metrology: The Revised SI System and Quantum Standards

نویسنده: Waldemar Nawrocki

ناشر: Springer International Publishing

سال انتشار: 2019

تعداد صفحات: XIV, 326 [334]

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 10 مگابایت