تجزیه و تحلیل پرتو یونی: مبانی و کاربردها
Ion Beam Analysis: Fundamentals and Applications
نویسنده: Michael Anthony Nastasi; James W Mayer; Yongqiang Wang, (Nuclear physicist)
ناشر: Taylor & Francis, CRC Press
سال انتشار: 2014
تعداد صفحات: 460
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 60 مگابایت