ارزیابی چرخه حیات نیمه هادی ها
Life-Cycle Assessment of Semiconductors
نویسنده: Sarah B. Boyd (auth.)
ناشر: Springer-Verlag New York
سال انتشار: 2012
تعداد صفحات: 250
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 3 مگابایت
توضیحی برای این کتاب ثبت نشده است.