خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85)

طیف سنجی طول عمر: روشی برای مشخص کردن نقص در سیلیکون برای کاربردهای فتوولتائیک (سری اسپرینگر در علم مواد، 85)

Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85)

نویسنده: Stefan Rein

ناشر: Springer

سال انتشار: 2005

تعداد صفحات: 513

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 8 مگابایت