خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

طیف سنجی مادام العمر: روشی از خصوصیات نقص در سیلیکون برای کاربردهای فتوولتائیک

Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

نویسنده: Dr. Stefan Rein (auth.)

ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg

سال انتشار: 2005

تعداد صفحات: 512

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 8 مگابایت