قابلیت اطمینان MEMS
MEMS Reliability
نویسنده: Allyson L. Hartzell, Mark G. da Silva, Herbert R. Shea (auth.)
ناشر: Springer US
سال انتشار: 2011
تعداد صفحات: 306
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 10 مگابایت
توضیحی برای این کتاب ثبت نشده است.