پشتیبانی از یادگیری ماشین برای تشخیص عیب سیستم روی تراشه
Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
نویسنده: Patrick Girard; Shawn Blanton; Li-C. Wang
ناشر: Springer Nature
سال انتشار: 2023
تعداد صفحات: 0
زبان: English
فرمت: epub - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 38 مگابایت