اندازه گیری و مدل سازی دستگاه های ناهمگن سیلیکون
Measurement and Modeling of Silicon Heterostructure Devices
نویسنده: John D. Cressler
ناشر: CRC Press
سال انتشار: 2007
تعداد صفحات: 200
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 3 مگابایت