اندازه گیری خواص مواد درون صفحه با میکروسکوپ پروب روبشی
Measurements of In-Plane Material Properties with Scanning Probe Microscopy
نویسنده: Carpick R.W., Eriksson M.A.
ناشر: 2004
سال انتشار: 2004
تعداد صفحات: 6
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 950 کیلوبایت