Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact

خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact

ناخالصی‌های فلزی در فناوری‌های مبتنی بر سیلیکون و ژرمانیوم: منشأ، مشخصه‌سازی، کنترل و تأثیر دستگاه

Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact

نویسنده: Cor Claeys, Eddy Simoen

ناشر: Springer International Publishing

سال انتشار: 2018

تعداد صفحات: 464

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 14 مگابایت

113,000 تومان 76,000 تومان