اندازه گیری و استانداردسازی فناوری نانو: پروتکل ها و نوآوری های صنعتی
Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations
نویسنده: Fujita, Daisuke; Kaiser, Debra L.; Mansfield, Elisabeth; Voorde, Marcel H
ناشر: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Nanotechnology innovation et applications, 2017 feb 15
سال انتشار: 2017
تعداد صفحات: 612
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 45 مگابایت