مترولوژی: از مبانی فیزیک تا کیفیت زندگی
Metrology: from Physics Fundamentals to Quality of Life
نویسنده: P. Tavella; M. J. T. Milton; M. Inguscio
ناشر: IOS Press, Incorporated
سال انتشار: 2018
تعداد صفحات: 528
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 27 مگابایت