میکروسکوپی مواد نیمه هادی 2007
Microscopy of Semiconducting Materials 2007
نویسنده: C J Humphreys, M J Galtrey, N van der Laak, R A Oliver, M J Kappers, J S Barnard (auth.), A. G. Cullis, P. A. Midgley (eds.)
ناشر: Springer Netherlands
سال انتشار: 2008
تعداد صفحات: 496
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 119 مگابایت