مدل سازی اندازه گیری SIP در مقیاس منافذ
Modellierung von SIP-Messungen auf Porenskala
نویسنده: Jan Volkmann
ناشر: RWTH Aachen
سال انتشار: 2009
تعداد صفحات: 129
زبان: German
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 7 مگابایت
توضیحی برای این کتاب ثبت نشده است.