فناوری نانومتر تست های تاخیری با کیفیت بالا را طراحی می کند
Nanometer Technology Designs High-Quality Delay Tests
نویسنده: Mohammad Tehranipoor, Nisar Ahmed (auth.)
ناشر: Springer US
سال انتشار: 2008
تعداد صفحات: 287
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 5 مگابایت