خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Nanoscale Thin Film Analysis: Fundamentals and Techniques

تجزیه و تحلیل فیلم نازک نانو: اصول و فنون

Nanoscale Thin Film Analysis: Fundamentals and Techniques

نویسنده: Terry L. Alford, L.C. Feldman, James W. Mayer

ناشر: Springer

سال انتشار: 2007

تعداد صفحات: 349

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 5 مگابایت