اندازه گیری تابش نوری با آشکارسازهای منتخب و مدارهای الکترونیکی همسان بین 200 نانومتر و 20 میکرومتر
Optical Radiation Measurement with Selected Detectors and Matched Electronic Circuits Between 200 nm and 20 μm
نویسنده: George Y. Eppeldauer
ناشر: National Institute of Standards and Technology
سال انتشار: 2001
تعداد صفحات: 120
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 14 مگابایت