خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Oxide Reliability: A Summary of Silicon Oxide Wearout, Breadown, and Reliability (Selected Topics in Electronics and Systems)

قابلیت اطمینان اکسید: خلاصه ای از فرسودگی، شکست و قابلیت اطمینان اکسید سیلیکون (موضوعات انتخاب شده در الکترونیک و سیستم ها)

Oxide Reliability: A Summary of Silicon Oxide Wearout, Breadown, and Reliability (Selected Topics in Electronics and Systems)

نویسنده: D. J. Dumin

سال انتشار: 2002

تعداد صفحات: 281

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 14 مگابایت