اندازه گیری منفعل و فعال: دوازدهمین کنفرانس بین المللی ، PAM 2011 ، آتلانتا ، جی ای آمریکا ، 20 تا 22 مارس 2011. مجموعه مقالات
Passive and Active Measurement: 12th International Conference, PAM 2011, Atlanta, GA, USA, March 20-22, 2011. Proceedings
نویسنده: Changhyun Lee, D. K. Lee, Yung Yi, Sue Moon (auth.), Neil Spring, George F. Riley (eds.)
ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg
سال انتشار: 2011
تعداد صفحات: 259
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 5 مگابایت