خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Pattern Recognition: 28th DAGM Symposium, Berlin, Germany, September 12-14, 2006. Proceedings

شناخت الگو: بیست و ششمین سمپوزیوم DAGM ، برلین ، آلمان ، 12-14 سپتامبر 2006. مجموعه مقالات

Pattern Recognition: 28th DAGM Symposium, Berlin, Germany, September 12-14, 2006. Proceedings

نویسنده: Yael Erez, Yoav Y. Schechner, Dan Adam (auth.), Katrin Franke, Klaus-Robert Müller, Bertram Nickolay, Ralf Schäfer (eds.)

ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg

سال انتشار: 2006

تعداد صفحات: 789

زبان: English

فرمت: djvu - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 19 مگابایت