شناسایی الگو: بیست و هشتمین سمپوزیوم DAGM، برلین، آلمان، 12-14 سپتامبر 2006. مجموعه مقالات
Pattern Recognition: 28th DAGM Symposium, Berlin, Germany, September 12-14, 2006. Proceedings
نویسنده: Yael Erez, Yoav Y. Schechner, Dan Adam (auth.), Katrin Franke, Klaus-Robert Müller, Bertram Nickolay, Ralf Schäfer (eds.)
ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg
سال انتشار: 2006
تعداد صفحات: 784 [789]
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 50 مگابایت