تشخیص الگوی: سمپوزیوم 32 DAGM ، Darmstadt ، آلمان ، 22-24 سپتامبر 2010. مجموعه مقالات
Pattern Recognition: 32nd DAGM Symposium, Darmstadt, Germany, September 22-24, 2010. Proceedings
نویسنده: David Gallup, Marc Pollefeys, Jan-Michael Frahm (auth.), Michael Goesele, Stefan Roth, Arjan Kuijper, Bernt Schiele, Konrad Schindler (eds.)
ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg
سال انتشار: 2010
تعداد صفحات: 591
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 19 مگابایت