تشخیص الگو: هفتمین کنفرانس چینی، CCPR 2016، چنگدو، چین، 5-7 نوامبر 2016، مجموعه مقالات، قسمت دوم
Pattern Recognition: 7th Chinese Conference, CCPR 2016, Chengdu, China, November 5-7, 2016, Proceedings, Part II
نویسنده: Tieniu Tan, Xuelong Li, Xilin Chen, Jie Zhou, Jian Yang, Hong Cheng (eds.)
ناشر: Springer Singapore
سال انتشار: 2016
تعداد صفحات: 750
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 119 مگابایت