خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy: Probing the traps in field-effect transistors

طیف سنجی مجموعه ای از شارژ عکس هیجان زده: کاوش در تله های ترانزیستورهای دارای اثر میدان

Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy: Probing the traps in field-effect transistors

نویسنده: Seongil Im, Youn-Gyoung Chang, Jae Hoon Kim

ناشر: Springer

سال انتشار: 2013

تعداد صفحات: 103

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 6 مگابایت