خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Photo-induced Defects in Semiconductors

نقص ناشی از عکس در نیمه هادی ها

Photo-induced Defects in Semiconductors

نویسنده: David Redfield, Richard H. Bube

ناشر: Cambridge University Press

سال انتشار: 2006

تعداد صفحات: 228

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 7 مگابایت