خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Photo-induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)

نقص های ناشی از عکس در نیمه هادی ها (مطالعات کمبریج در فیزیک نیمه هادی ها و مهندسی میکروالکترونیک، سری شماره 4)

Photo-induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)

نویسنده: David Redfield, Richard H. Bube

ناشر: Cambridge University Press

سال انتشار: 1996

تعداد صفحات: 228

زبان: English

فرمت: djvu - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 2 مگابایت