نقص های ناشی از نور در نیمه هادی ها
Photoinduced Defects in Semiconductors
نویسنده: David Redfield, Richard H. Bube
ناشر: CUP
سال انتشار: 1996
تعداد صفحات: 227
زبان: English
فرمت: djvu - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 1 مگابایت
توضیحی برای این کتاب ثبت نشده است.