خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Photoinduced defects in semiconductors

نقص ناشی از عکس در نیمه هادی ها

Photoinduced defects in semiconductors

نویسنده: David Redfield, Richard H. Bube

ناشر: CUP

سال انتشار: 1996

تعداد صفحات: 228

زبان: English

فرمت: djvu - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 2 مگابایت