اصول فیزیکی میکروسکوپ الکترونی: مقدمه ای بر TEM، SEM و AEM
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
نویسنده: R.F. Egerton
ناشر: Springer International Publishing
سال انتشار: 2016
تعداد صفحات: 203
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 7 مگابایت