اصول فیزیکی میکروسکوپ الکترونی: مقدمه ای بر TEM، SEM و AEM
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
نویسنده: Ray F. Egerton (auth.)
ناشر: Springer US
سال انتشار: 2005
تعداد صفحات: 206
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 7 مگابایت