تشخیص نقطه مراقبت در یک تراشه
Point-of-Care Diagnostics on a Chip
نویسنده: Curtis D. Chin, Sau Yin Chin, Tassaneewan Laksanasopin, Samuel K. Sia (auth.), David Issadore, Robert M. Westervelt (eds.)
ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg
سال انتشار: 2013
تعداد صفحات: 235
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 7 مگابایت