خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Power-Constrained Testing of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)

تست قدرت محدود مدارهای VLSI (مرزها در تست الکترونیکی)

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)

نویسنده: Nicola Nicolici, Bashir M. Al-Hashimi

ناشر: Kluwer Academic Publishers; Springer, 1st edition, December 6, 2000

سال انتشار: 2000

تعداد صفحات: 191

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 11 مگابایت