خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Power-constrained Testing of VLSI Circuits

آزمایش قدرت محدود مدارهای VLSI

Power-constrained Testing of VLSI Circuits

نویسنده: Nicola Nicolici, Bashir M. Al-Hashimi (auth.)

ناشر: Springer US

سال انتشار: 2004

تعداد صفحات: 181

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 14 مگابایت