موقعیت مکانی دقیق برای بینایی ماشین و فتوگرامتری: یافتن و دستیابی به حداکثر دقت ممکن
Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry: Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy
نویسنده: Brian S.R. Armstrong, José A. Gutierrez (auth.)
ناشر: Springer-Verlag London
سال انتشار: 2008
تعداد صفحات: 162
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 6 مگابایت