خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Protonendotierung von Silizium: Untersuchung und Modellierung protoneninduzierter Dotierungsprofile in Silizium

دوپینگ پروتون سیلیکون: بررسی و مدل سازی پروفایل های دوپینگ ناشی از پروتون در سیلیکون

Protonendotierung von Silizium: Untersuchung und Modellierung protoneninduzierter Dotierungsprofile in Silizium

نویسنده: Johannes G Laven (auth.)

ناشر: Vieweg+Teubner Verlag

سال انتشار: 2014

تعداد صفحات: 323

زبان: German

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 3 مگابایت