پردازش کمی داده ها در میکروسکوپ پروب اسکن. برنامه های SPM برای نانومتر شناسی
Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy. SPM Applications for Nanometrology
نویسنده: Petr Klapetek (Auth.)
ناشر: William Andrew
سال انتشار: 2012
تعداد صفحات: 316
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 8 مگابایت